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专利名称：残余应力分析方法及应用专利类型：发明专利
发明人：祝洪川,胡宽辉,王俊霖,陈一鸣,孙伟华,孟庆格申请号：CN202010550421.7申请日：20200616公开号：CN111751035A公开日：20201009
摘要：本发明公开了一种残余应力分析方法及应用，属于光测力学、微电子器件技术领域。该分析方法包括将切割前的图像与切割后图像进行匹配，并结合相应的计算公式计算出释放的残余应力。该方法不仅可以应用于金属和非金属材料表面残余应力的测量和分析，而且还能够用于极薄取向硅钢片和非金属类材料表面残余应力的测试分析。
申请人：武汉钢铁有限公司
地址：430083 湖北省武汉市青山区厂前2号门股份公司机关
国籍：CN
代理机构：武汉开元知识产权代理有限公司
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