1
范围 适用于金属材料制承压设备用原材料、零部件和设备的超声检测,也适用于金属材料制在用承压设备 与承压设备有关的支承件和结构件的超声检测,也可参照本部分使用 .
的超声检测。
2 规范性引用文件
下列文件中的条款通过 JB/T 4730 的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件, 其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成 协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部 分。
JB 4730.1—2005 承压设备无损检测 第 1 部分:通用要求 JB/T 7913 —1995 超声波检测用钢制对比试块的制作与校验方法 JB/T 9214—1999 A 型脉冲反射式超声波探伤系统工作性能 测试方法 JB/T 10061— 1999 A 型脉冲反射式超声波探伤仪 通用技术条件 JB/T 10062— 1999 超声探伤用探头 性能测试方法
JB/T 10063 — 1999 超声探伤用 1 号标准试块技术条件 3
一般要求
3.1 超声检测人员
超声检测人员的一般要求应符合 JB/T 4730.1 的有关规定。
3.2 检测设备
3.2.1 超声检测设备均应具有产品质量合格证或合格的证明文件。 3.2.2 探伤仪、探头和系统性能 3.2.2.1 探伤仪
采用 A 型脉冲反射式超声波探伤仪,其工作频率范围为 0.5MHz ~10MHz ,仪器至少在荧光屏满刻度 的
80%范围内呈线性显示。探伤仪应具有 80dB 以上的连续可调衰减器,步进级每档不大于 5% 。其余指标应符合 JB/T10061 的规定。 3.2.2.2 探头
3.2.2.2.1 晶片面积一般不应大于 500mm2,且任一边长原则上不大于 25mm 。
3.2.2.2.2 单斜探头声束轴线水平偏离角不应大于 2°,主声束垂直方向不应有明显的双峰。 3.2.2.3 超声探伤仪和探头的系统性能
3.2.2.3.1 在达到所探工件的最大检测声程时,其有效灵敏度余量应不小于 3.2.2.3.2 仪器和探头的组合频率与公称频率误差不得大于±
10%。
10dB 。
2dB ,其精度
为任意相邻 12dB 误差在± 1dB 以内,最大累计误差不超过 1dB。水平线性误差不大于 1%,垂直线性误差 不大于
3.2.2.3.3 仪器和直探头组合的始脉冲宽度(在基准灵敏度下) :对于频率为 5MHz 的探头,宽度不大于 10mm ;对于频率为 2.5MHz 的探头,宽度不大于 15mm。
3.2.2.3.4 直探头的远场分辨力应不小于 30dB,斜探头的远场分辨力应不小于 6dB 。 3.2.2.3.5 仪器和探头的系统性能应按 JB/T 9214 和 JB/T 10062 的规定进行测试。 3.3 超声检测一般方法 3.3.1 检测准备
3.3.1.1 承压设备的制造安装和在用检验中,检测时机及抽检率的选择等应按法规、产品标准及有关技术 文件的
要求和原则进行。
3.3.1.2 检测面的确定,应保证工件被检部分均能得到充分检查。
3.3.1.3 焊缝的表面质量应经外观检测合格。所有影响超声检测的锈蚀、飞溅和污物等都应予以清除,其表 面粗
糙度应符合检测要求。表面的不规则状态不得影响检测结果的正确性和完整性,否则应做适当的处理。
3.3.2 扫查覆盖率 为确保检测时超声声束能扫查到工件的整个被检区域,探头的每次扫查覆盖率应大于探头直径
的
15%。
3.3.3 探头的移动速度 探头的扫查速度不应超过 150mm/s。 3.3.4 扫查灵敏度 扫查灵敏度通常不得低于基准灵敏度。
3.3.5 耦合剂 应采用透声性好,且不损伤检测表面的耦合剂,如机油、浆糊、水等。 3.3.6 灵敏度补偿
a) 耦合补偿。在检测和缺陷定量时,应对由表面粗糙度引起的耦合损失进行补偿。
b) 衰减补偿。 在检测和缺陷定量时, 应对材质衰减引起的检测灵敏度下降和缺陷定量误差进行补偿。 c) 曲面补偿。对探测面是曲面的工件,应采用曲率半径与工件相同或相近的试块,通过对比试验进 行曲率
补偿。
3.4 系统校准和复核
3.4.1 一般要求 校准应在标准试块上进行,校准中应使探头主声束垂直对准反射体的反射面,以获得稳定的和最
大的反射信号。
3.4.2 仪器校准 每隔三个月至少对仪器的水平线性和垂直线性进行一次测定,测定方法按 JB/T 10061 的规定进
行。
3.4.3 新购探头测定 新购探头应有探头性能参数说明书,新探头使用前应进行前沿距离、 K 值、主声束偏离、
灵敏度余量 和分辨力等主要参数的测定。测定应按 JB/T 10062 的有关规定进行,并满足其要求。
3.4.4 检测前仪器和探头系统测定
3.4.4.1 使用仪器 - 斜探头系统,检测前应测定前沿距离、 K 值和主声束偏离,调节或复核扫描量程和扫查 灵敏
度。
3.4.4.2 使用仪器 -直探头系统,检测前应测定始脉冲宽度、灵敏度余量和分辨力,调节或复核扫描量程和 扫查
灵敏度。
3.4.5 检测过程中仪器和探头系统的复核 遇有下述情况应对系统进行复核:
a) 校准后的探头、耦合剂和仪器调节旋钮发生改变时; b) 检测人员怀疑扫描量程或扫查灵敏度有变化时; c) 连续工作 4h 以上时; d) 工作结束时。
3.4.6 检测结束前仪器和探头系统的复核
a) 每次检测结束前,应对扫描量程进行复核。如果任意一点在扫描线上的偏移超过扫描线读数的 10%,则
扫描量程应重新调整,并对上一次复核以来所有的检测部位进行复检。
b)
每次检测结束前,应对扫查灵敏度进行复核。一般对距离 - 波幅曲线的校核不应少于 3 点。如曲线 上任何一点幅度下降 2dB ,则应对上一次复核以来所有的检测部位进行复检;如幅度上升 应对所有的记录信号进行重新评定。
2dB ,则
3.4.7 校准、复核的有关注意事项 校准、复核和对仪器进行线性检测时,任何影响仪器线性的控制器(如抑制或滤
波开关等)都应放在 “关”的位置或处于最低水平上。
3.5 试块 3.5.1 标准试块
3.5.1.1 标准试块是指本部分规定的用于仪器探头系统性能校准和检测校准的试块,本部分采用的标准试 块有:
a) 钢板用标准试块: CB Ⅰ、 CB Ⅱ; b) 锻件用标准试块: CSⅠ、 CSⅡ、 CSⅢ;
c) 焊接接头用标准试块: CSK-ⅠA 、CSK-ⅡA、CSK- ⅢA、CSK-ⅣA。
3.5.1.2 标准试块应采用与被检工件声学性能相同或近似的材料制成,该材料用直探头检测时,不得有大 于或等
于 φ2mm 平底孔当量直径的缺陷。
3.5.1.3 标准试块尺寸精度应符合本部分的要求,并应经计量部门检定合格。 3.5.1.4 标准试块的其他制造要求应符合 JB/T 10063 和 JB/T 7913 — 1995 的规定。 3.5.2 对比试块
3.5.2.1 对比试块是指用于检测校准的试块。
3.5.2.2 对比试块的外形尺寸应能代表被检工件的特征,试块厚度应与被检工件的厚度相对应。如果涉及 到两种
或两种以上不同厚度部件焊接接头的检测,试块的厚度应由其最大厚度来确定。
3.5.2.3 对比试块反射体的形状、尺寸和数量应符合本部分的规定。 4 承压设备用原材料、零部件的超声检测 4.1 承压设备用钢板超声检测 4.1.1 范围
本条适用于板厚为 6mm~ 250mm 的碳素钢、低合金钢承压设备用板材的超声检测和质量等级评定。
4.1.2 探头选用
4.1.2.1 探头的选用应按表 1 的规定进行。
板厚, mm 6~20 >20~ 40 >40~ 250 4.1.3 标准试块
表 1 锅炉、压力容器用板材超声检测探头选用 采用探头 公称频率, MHz 双晶直探头 单晶直探头 单晶直探头 5 5 2.5 探头晶片尺寸 晶片面积不小于 150mm2 φ14~ φ20 mm φ20~ φ25 mm 4.1.2.2 双晶直探头性能应符合附录 A (规范性附录)的要求。
4.1.3.1 用双晶直探头检测厚度不大于 20mm 的钢板时,采用的 CB Ⅰ标准试块如图 1 所示。
4.1.3.2 用单直探头检测厚度大于 20mm的钢板时, CBⅡ标准试块应符合图 2和表 2的规定。 试块厚度应 与被检
钢板厚度相近。
表 2 CB Ⅱ标准试块
试块编号 CB Ⅱ-1 CB Ⅱ-2 CB Ⅱ-3 CB Ⅱ-4 mm
试块厚度 T ≥20 ≥40 ≥65 ≥110 ≥170 ≥220 15 30 50 90 被检钢板厚度 >20~ 40 >40~ 60 >60 ~ 100 >100 ~ 160 3 检测面到平底孔的距离 s
CB Ⅱ-5
>160 ~ 200 >200 ~ 250 140 190 CB Ⅱ-6 4.1.4 基准灵敏度
4.1.4.1 板厚不大于 20mm 时,用 CB Ⅰ试块将工件等厚部位第一次底波高度调整到满刻度的
50%,再提
高 10dB 作为基准灵敏度。
4.1.4.2 板厚大于 20mm 时,应将 CBⅡ试块 φ5 平底孔第一次反射波高调整到满刻度的
50%作为基准灵敏
度。
4.1.4.3 板厚不小于探头的三倍近场区时,也可取钢板无缺陷完好部位的第一次底波来校准灵敏度,其结 果应与 4.1.4.2 的要求相一致。 4.1.5 检测方法
4.1.5.1 检测面 可选钢板的任一轧制表面进行检测。若检测人员认为需要或设计上有要求时,也可选钢板的上、
下两 轧制表面分别进行检测。
4.1.5.2 耦合方式
耦合方式可采用直接接触法或液浸法。
4.1.5.3 扫查方式
a) 探头沿垂直于钢板压延方向,间距不大于 100mm 的平行线进行扫查。在钢板剖口预定线两侧各 50mm
(当板厚超过 100mm 时,以板厚的一半为准)内应作 100%扫查,扫查示意图见图 3;
b) 根据合同、技术协议书或图样的要求,也可采用其他形式的扫查。 4.1.6 缺陷的测定与记录
4.1.6.1 在检测过程中,发现下列三种情况之一即作为缺陷:
a) 缺陷第一次反射波( F1)波高大于或等于满刻度的 50% ,即 F1≥ 50%; b) 当底面第一次反射波( B1)波高未达到满刻度,此时,缺陷第一次反射波(
F1)波高与底面第一
次反射波( B1)波高之比大于或等于 50%,即 B1<100%,而 F1/B1≥50%;
c) 底面第一次反射波( B1)波高低于满刻度的 50%,即 B1<50%。 4.1.6.2 缺陷的边界范围或指示长度的测定方法
a) 检出缺陷后,应在它的周围继续进行检测,以确定缺陷的延伸。
b) 用双晶直探头确定缺陷的边界范围或指示长度时,探头的移动方向应与探头的隔声层相垂直,并 使缺陷
波下降到基准灵敏度条件下荧光屏满刻度的 的结果以较严重者为准。
25% 或使缺陷第一次反射波高与底面第一次反射波高
之比为 50% 。此时,探头中心的移动距离即为缺陷的指示长度,探头中心点即为缺陷的边界点。两种方法 测得
c) 用单直探头确定缺陷的边界范围或指示长度时,移动探头使缺陷波第一次反射波高下降到基准灵 敏度条
件下荧光屏满刻度的 25%或使缺陷第一次反射波与底面第一次反射波高之比为 50%。此时, 探头中
心的移动距离即为缺陷的指示长度,探头中心即为缺陷的边界点。两种方法测得的结果以较严重者为准。
d) 确定 4.1.6.1 c)中缺陷的边界范围或指示长度时,移动探头(单直探头或双直探头)使底面第一 次反射
波升高到荧光屏满刻度的 的边界点。
50%。此时探头中心移动距离即为缺陷的指示长度,探头中心点即为缺陷
e) 当板厚较薄,确需采用第二次缺陷波和第二次底波来评定缺陷时,基准灵敏度应以相应的第二次 反射波
来校准。
4.1.7 缺陷的评定方法
4.1.7.1 缺陷指示长度的评定规则 单个缺陷按其指示的最大长度作为该缺陷的指示长度。若单个缺陷的指示长度
小于 40mm 时,可不作 记录。
4.1.7.2 单个缺陷指示面积的评定规则
a) 一个缺陷按其指示的面积作为该缺陷的单个指示面积。
b) 多个缺陷其相邻间距小于 100mm 或间距小于相邻较小缺陷的指示长度 (取其较大值) 时,以各缺 陷面
积之和作为单个缺陷指示面积。
c)
指示面积不计的单个缺陷见表 3。
表 3 钢板质量等级评定
等级 Ⅰ Ⅱ Ⅲ Ⅳ 在任一 1m× 1m 检测面积 内存在的缺陷面积百分比 以下单个缺陷 指示面单个缺陷 指示长度 单个缺陷 指示面积 % 2mm 积不计 cm2 cm < 25 <80 ≤3 <9 < 50 <100 ≤5 <15 <120 <150 <100 <100 ≤ 10 ≤ 10 <25 <25 Ⅴ 4.1.7.3 缺陷面积百分比的评定规则 折算。
4.1.8 钢板质量等级评定
4.1.8.1 钢板质量等级评定见表 3。
超过Ⅳ级者 1m× 1m,可按比例
在任一 1m×1m 检测面积内,按缺陷面积所占的百分比来确定。如钢板面积小于
4.1.8.2 在坡口预定线两侧各 50mm(板厚大于 100mm 时,以板厚的一半为准)内,缺陷的指示长度大于 或等于 50mm 时,应评为Ⅴ级。
4.1.8.3 在检测过程中,检测人员如确认钢板中有白点、裂纹等危害性缺陷存在时,应评为Ⅴ级。 4.1.9 横波检测
4.1.9.1 在检测过程中对缺陷有疑问或合同双方技术协议中有规定时,可采用横波检测。 4.1.9.2 钢板横波检测见附录 B(规范性附录)进行。 4.2 承压设备用钢锻件超声检测和质量分级
4.2.1 范围 本条适用于承压设备用碳钢和低合金钢锻件的超声检测和质量等级评定。 本条不适用于奥氏体钢等粗
晶材料锻件的超声检测,也不适用于内、外半径之比小于 形锻件的周向横波检测。
4.2.2 探头
80% 的环形和筒
双晶直探头的公称频率应选用 5MHz 。探头晶片面积不小于 150mm 2;单晶直探头的公称频率应选用 2~
5MHz ,探头晶片一般为 φ14~ φ25mm。 4.2.3 试块
应符合 3.5 的规定。
4.2.3.1 单直探头标准试块
采用 CSⅠ试块,其形状和尺寸应符合图 4和表 4 的规定。
4.2.3.2 双晶直探头试块
a) 工件检测距离小于 45mm 时,应采用 CSⅡ标准试块。 b) CSⅡ试块的形状和尺寸应符合图 5 和表 5 的规定。
4.2.3.3 检测面是曲面时,应采用 CS Ⅲ标准试块来测定由于曲率不同而引起的声能损失,其形状和尺寸 按图 6
所示
4.2.4 检测时机 检测原则上应安排在热处理后,孔、台等结构机加工前进行,检测面的表面粗糙度 Ra≤6.3μ m。
国外标准的对应条款及技术内容,技术差异的简要评述
4.2.5 检测方法
4.2.5.1 一般原则 锻件应进行纵波检测,对筒形和环形锻件还应增加横波检测。 4.2.5.2 纵波检测
a) 原则上应从两个相互垂直的方向进行检测,尽可能地检测到锻件的全体积。主要检测
方向如图 7 所示。其他形状的锻件也可参照执行;
b) 锻件厚度超过 400mm 时,应从相对两端面进行 100% 的扫查。
4.2.5.3 横波检测 钢锻件横波检测应按 JB/T4730。 2-2005 附录 C(规范性附录)的要求进行。 4.2.6 灵敏度的确定
4.2.6.1 单直探头基准灵敏度的确定 当被检部位的厚度大于或等于探头的三倍近场区长度,且探测面与底面平行
时,原则上可采用底波计
算法确定基准灵敏度。对由于几何形状所限,不能获得底波或壁厚小于探头的三倍近场区时,可直接采用 CSⅠ标准试块确定基准灵敏度。
4.2.6.2 双晶直探头基准灵敏度的确定
使用 CS Ⅱ试块,依次测试一组不同检测距离的 φ3 平底孔(至少三个) 。调节衰减器,作出双晶直探 头的距离 -波幅曲线,并以此作为基准灵敏度。
4.2.6.3 扫查灵敏度一般不得低于最大检测距离处的 φ2mm 平底孔当量直径。 4.2.7 工件材质衰减系数的测定
4.2.7.1 在工件无缺陷完好区域,选取三处检测面与底面平行且有代表性的部位,调节仪器使第一次底面
回波幅度 (B1或 Bn)为满刻度的 50%,记录此时衰减器的读数, 再调节衰减器, 使第二次底面回波幅度 (B2
或 Bm)为满刻度的 50%,两次衰减器读数之差即为( B1- B2)或( Bn- Bm)的 dB 差值(不考虑底面反射损 失)。
4.2.7.2 衰减系数的计算公式( T<3N,且满足 n>3N/T, m=2n, α=[(Bn- Bm)- 6]/2(m- n)T⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯( 1) 式中:
α——衰减系数, dB/m (单程);
( Bn- Bm)——两次衰减器的读数之差, dB; T——工件检测厚度, mm ;
N——单直探头近场区长度, mm; m、n——底波反射次数。 4.2.7.3 衰减系数的计算公式( T ≥ 3N )
α=[(B1-B2) -6]/2T⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯( 2)
B1- B2)——两次衰减器的读数之差, dB;
式中其余符号意义同式( 1)的规定。
4.2.7.4 工件上三处衰减系数的平均值即作为该工件的衰减系数。 4.2.8 缺陷当量的确定
4.2.8.1 被检缺陷的深度大于或等于探头的三倍近场区时, 采用 AVG 曲线及计算法确定缺陷当量。 对于三 倍近
场区内的缺陷, 可采用单直探头或双晶直探头的距离 -波幅曲线来确定缺陷当量。 也可采用其他等效方 法来确定。
4.2.8.2 计算缺陷当量时,若材质衰减系数超过 4dB/m ,应考虑修正。 4.2.9 缺陷记录
4.2.9.1 记录当量直径超过 φ4mm 的单个缺陷的波幅和位置。
4.2.9.2 密集区缺陷:记录密集区缺陷中最大当量缺陷的位置和缺陷分布。饼形锻件应记录大于或等于 φ 4mm
当量直径的缺陷密集区,其他锻件应记录大于或等于 φ3mm 当量直径的缺陷密集区。缺陷密集区面 积以 50mm×
50mm 的方块作为最小量度单位,其边界可由 6dB 法决定。 4.2.9.3 底波降低量应按表 6 的要求记录。
表 6 由缺陷引起底波降低量的质量等级评定 dB
等级 底波降低量 BG/BF Ⅰ Ⅱ >8~14 Ⅲ >14~20 Ⅳ >20~26 Ⅴ >26 ≤8 注:本表仅适用于声程大于近场区长度的缺陷。 6
4.2.9.4 衰减系数:若合同双方有规定时,应记录衰减系数。 4.2.10 质量等级评定
4.2.10.1 单个缺陷的质量等级评定见表 7。
表 7 单个缺陷的质量等级评定 mm
等级 缺陷当量直径 Ⅰ ≤ φ 4 Ⅱ Ⅲ Ⅳ Ⅴ >φ4 +16dB φ4+(>0 dB ~8dB) φ4+(>8 dB ~12dB ) φ 4+ ( >12 dB ~16dB ) 4.2.10.2 缺陷引起底波降低量的质量等级评定见表 4.2.10.3 缺陷密集区质量等级评定见表 8。
等级 6。 表 8 密集区缺陷的质量等级评定
Ⅰ Ⅱ Ⅲ >5~10 Ⅳ >10~20 Ⅴ >20 密集区缺陷占检测总面积的百分比, % 0 >0~5 4.2.10.4 表 6、表 7 和表 8的等级应作为的等级分别使用。 4.2.10.5 当缺陷被检测人员判定为危害性缺陷时,锻件的质量等级为Ⅴ级。 4.3 承压设备用无缝钢管超声检测
4.3.1 范围 本条适用于外径为 12mm~ 660mm、壁厚大于等于 2mm 的承压设备用碳钢和低合金无缝钢管或外径
为 12mm~ 400mm 、壁厚为 2mm~ 35mm 的奥氏体不锈钢无缝管的超声检测和质量等级评定。 本条不适用于
内、 外径之比小于 80%的钢管周向直接接触法横波检测, 也不适用于分层缺陷的超声检测。 试块的制备和要求
4.5.2.1 对比试块应选取与被检钢管规格相同,材质、热处理工艺和表面状况相同或相似的钢管制备。对 比试块不得有大于或等于 φ2mm 当量的自然缺陷。对比试块的长度应满足检测方法和检测设备要求。
4.3.2
4.3.2.2 钢管纵向缺陷检测试块的尺寸、 V 形槽和位置应符合图 8 和表 11 的规定。
表 11 对比试样上人工缺陷尺寸
级别 Ⅰ Ⅱ
长度 l ,mm 40 40 40 深度 t 占壁厚的百分比, % 5 ( 0.2mm ≤ t ≤ 1mm ) 8 ( 0.2mm ≤ t ≤ 3mm ) 10( 0.2mm ≤t≤3mm) Ⅲ 4.3.3 检测方法
4.3.3.1 钢管的检测主要针对纵向缺陷。横向缺陷的检测可按附录 D (规范性附录)的规定,由合同双方 协商解
决。
4.3.3.2 钢管的检测可根据钢管规格选用液浸法或接触法检测。
4.3.3.3 检测纵向缺陷时超声波束应由钢管横截面中心线一侧倾斜入射, 在管壁内沿周向呈锯齿形传播 (如 图 9
所示)。检测横向缺陷时超声波束应沿轴向倾斜入射呈锯齿形传播(如图 10 所示)。
4.3.3.4 探头相对钢管螺旋进给的螺距应保证超声波束对钢管进行 100%扫查时,有不小于 15%的覆盖率。
4.3.3.5 自动检测应保证动态时的检测灵敏度,且内、外槽的最大反射波幅差不超过 2dB。 4.3.3.6 每根钢管应从管子两端沿相反方向各检测一次。 4.3.4
检测设备
2.5MHz ~
4.3.4.1 检测设备由超声波探伤仪、探头和其他机械传动装置及辅助装置等组成。检测频率为 5MHz 。
4.3.4.2 液浸法检测使用线聚焦或点聚焦探头。接触法检测使用与钢管表面吻合良好的斜探头或聚焦斜探 头。单
个探头压电晶片长度或直径小于或等于
4.3.5
25mm 。
灵敏度的确定
4.3 5.1 直接接触法横波基准灵敏度的确定,可直接在对比试样上将内壁人工 V 形槽的回波高度调到荧光 屏满刻
度的 80%,再移动探头,找出外壁人工 V 形槽的最大回波,在荧光屏上标出,连接两点即为距离 - 波幅曲线,作为检测时的基准灵敏度。
4.3.5.2 液浸法基准灵敏度按下述方法确定:
a) 水层距离应根据聚焦探头的焦距来确定; b)
调整时,一面用适当的速度转动管子,一面将探头慢慢偏心,使对比试样管内、外表面人工缺陷 所产生的回波幅度均达到荧光屏满刻度的 50%,以此作为基准灵敏度。如不能达到此要求,也可 在内、外槽设立不同的报警电平。
4.3.5.3 扫查灵敏度一般应比基准灵敏度高 6dB。
4.3.6 验收要求:无缝钢管的判废要求按相应技术文件规定。
4.3.7 结果评定:若缺陷回波幅度大于或等于相应的对比试块人工缺陷回波, 则判为不合格。不合格品允许
重新处理,处理后仍按本标准进行超声检测和质量等级评定。
4.4 承压设备用奥氏体钢锻件超声检测
4.4.1 范围 本条适用于承压设备用奥氏体钢锻件的超声检测和质量等级评定。 4.4.2 探头
4.4.2.1 探头的工作频率为 0.5 MHz ~2MHz 。 4.4.2.2 直探头的晶片直径为 14mm ~30mm 。 4.4.2.3 斜探头的 K 值一般为 0.5~ 2。
4.4.2.4 为了准确测定缺陷,必要时也可采用其他探头。 4.4.3 试块
4.4.3.1 对比试块应符合 3.5 的规定。
4.4.3.2 对比试块的晶粒大小和声学特性应与被测锻件大致相近。
4.4.3.3 应制备几套不同晶粒度的奥氏体钢锻件对比试块,以便能将缺陷区衰减同试块作合理的 比较。 4.4.3.4 对比试块的形状和尺寸按图 11和表 14 所示。
表 14 奥氏体钢锻件试块尺寸 mm
φ3 L 20 40 60 80 — — — φ6 D 50 50 50 50 — — — φ10 D 50 50 50 60 80 80 — φ13 D 50 50 60 80 80 100 100 — — — L 20 50 80 120 160 200 — L 20 50 100 150 200 250 300 — — — L 20 50 100 150 200 250 300 400 500 600 D 50 50 60 80 80 100 100 150 150 200 — — — — — — — — — — — —
4.4.3.5 在条件允许时,经合同双方协议,可在锻件有代表性的部位加工一个或几个适当大小的对比孔或 槽,代
替试块作为校正和检测的基准。
4.4.4 检测时机和工件要求
4.4.4.1 锻件原则上应在最终热处理后、粗加工前进行超声检测。检测表面粗糙度
Ra≤6.3μ m。检测面应
无氧化皮、漆皮、污物等。
4.4.4.2 锻件应加工成简单的形状,以利于扫查和声束的覆盖。
4.4.5 检测方法 一般应进行直探头纵波检测。对筒形锻件和环形锻件必要时还应进行斜探头检测,但扫查部位和
验收 标准应由合同双方商定。
4.4.5.1 斜探头检测 奥氏体钢锻件斜探头检测应按附录 E(规范性附录)的要求进行。 4.4.5.2 直探头纵波检测
直探头纵波检测应符合 4.2.5.2 的规定。
4.4.6 灵敏度的校正
4.4.6.1 当被检锻件厚度小于或等于 600mm 时,应根据定货锻件厚度和要求的质量等级, 在适当厚度和当 量的
平底孔试块上校正, 并根据实测值做出距离 -波幅曲线 (定量线) ;当被检锻件厚度大于 600mm 时, 在 锻件无缺陷部位将底波调至满刻度的
4.4.7 缺陷记录
4.4.7.1 由于缺陷的存在,而使底波降为满刻度 25%以下的部位。 4.4.7.2 波幅幅度大于基准线高度 50%的缺陷信号。 4.4.8 质量等级评定
4.4.8.1 单直探头检测的质量等级评定见表 15 。 4.4.8.2 斜探头检测的质量等级评定见表 16。 4.4.8.3 表 15 和表 16 的级别应作为的等级使用。
80%,以此作为基准灵敏度。
6dB。
4.4.6.2 扫查灵敏度应至少比距离 - 波幅曲线(定量线)或基准灵敏度提高
表 15 单直探头检测的质量等级评定 mm
工件公称厚度 工件质量等级 缺陷当量直径 φ或因缺陷 引起底波降低后的幅度
≤80 Ⅰ Ⅱ > φ> 80 ~ 200 > 200~ 300 Ⅰ Ⅱ >φ ≤ φ6 6 > 300 ~ 600 Ⅰ ≤ φ 13 > 600 Ⅰ ≥ 5% Ⅱ 〈5% Ⅰ ≤ φⅡ >φ 10 Ⅱ > φ 13 ≤ φ3 3 10 表 16 斜探头检测的质量等级评定 mm
等级 Ⅰ Ⅱ
缺陷大小 V 形槽深为工件壁厚的 3% ,最大为 3 V 形槽深为工件壁厚的 5% ,最大为 6 5 承压设备对接焊接接头超声检测
5.1 钢制承压设备对接焊接接头超声检测 5.1.1 适用范围
本条规定了钢制承压设备对接焊接接头的超声检测和质量等级评定。
本条适用于母材厚度为 8mm~ 400mm 全焊透熔化焊对接焊接接头的超声检测。母材厚度为
6mm~
8mm 全焊透熔化焊对接焊接接头的超声检测应按照附录 G(规范性附录 )的规定进行。承压设备有关的支承 件
和结构件以及螺旋焊接接头的超声检测也可按本条的规定进行。钛制承压设备对接焊接接头超声检测参 照附录 M (资料性附录)的规定进行,奥氏体不锈钢承压设备对接焊接接头超声波检测参照附录 性附录)的规定进行。
如确有需要,壁厚为 4mm~ 6mm 的环向焊接接头的超声检测可参照 6.1 进行。 本条不适用于铸钢焊接接头、外径小于 159mm 的钢管对接焊接接头、内径小于或等于
5.1.2 超声检测技术等级 5.1.2.1 超声检测技术等级选择
200mm 的管座
N(资料
角焊缝的超声检测,也不适用于外径小于 250mm 或内、外径之比小于 80%的纵向焊接接头超声检测。
超声检测技术等级分为 A 、B、C 三个检测级别。超声检测技术等级选择应符合制造、安装、在用等 有关标准及设计图样规定。
5.1.2.2 不同检测技术等级的要求
5.1.2.2.1 A 级仅适用于母材厚度≥ 8mm~ 46mm 的焊接接头。可用一种 K 值探头采用直射波法和一次反 射波法
在焊接接头的单面单侧进行检测。一般不要求进行横向缺陷的检测。 5.1.2.2.2 B 级检测:
a) 母材厚度≥ 8mm~ 46mm 时,一般用一种 K值探头采用直射波法和一次反射波法在焊接接头的单面 双侧进行检测。
b) 母材厚度大于 46mm~ 120mm 时,一般用一种 K 值探头采用直射波法在焊接接头的双面双侧进行 检
测,如受几何条件,也可在焊接接头的双面单侧或单面双侧采用两种 K 值探头进行检测。
c) 母材厚度大于 120mm~ 400mm时,一般用两种 K 值探头采用直射波法在焊接接头的双面双侧进行 检测。两种探头的折射角相差应不小于
d)
10°。
应进行横向缺
10°~ 20°
陷的检测。检测时,可在焊接接头两侧边缘使探头与焊接接头中心线成 扫查,见图 13。
5.1.2.2.3 C 级检测:
作两个方向的斜平行扫查,见图 12。如焊接接头余高磨平, 探头应在焊接接头及热影响区上作两个方向的 平行
采用 C 级检测时应将焊接接头的余高磨平, 对焊接接头两侧斜探头扫查经过的母材区域要用直探头进 行检测,检测方法见 5.1.4.4。
a) b)
母材厚度≥ 8mm~ 46mm 时,一般用两种 K 值探头采用直射波法和一次反射波法在焊接接头 的单面
双侧进行检测。两种探头的折射角相差应不小于 10°,其中一个折射角应为 45°。
母材厚度大于 46mm~ 400mm 时,一般用两种 K 值探头采用直射波法在焊接接头的双面双侧 进行检测。两种探头的折射角相差应不小于
10°。对于单侧坡口角度小于 5°的窄间隙焊缝,
如有可能应增加对检测与坡口表面平行缺陷有效的检测方法。
c) 5.1.3
应进行横向缺陷的检测。检测时,将探头放在与焊缝及热影响区上作两个方向的平行扫查, 见图
13。
试块
5.1.3.1 试块制作应符合 3.5 的规定。
5.1.3.2 采用的标准试块为 CSK-ⅠA、CSK-ⅡA、CSK-ⅢA 和 CSK- ⅣA。其形状和尺寸应分别符合图 14、 图 15 、图 16、图 17 和表 17 的规定。
5.1.3.3 CSK-ⅠA、CSK-ⅡA 和 CSK- ⅢA 试块适用壁厚范围为 6mm~120mm 的焊接接头, CSK- ⅠA 和 CSK-
ⅣA 系列试块适用壁厚范围大于 120mm~400mm 的焊接接头。在满足灵敏度要求时,试块上的人工 反射体根据检测需要可采取其他布置形式或添加,也可采用其他型式的等效试块。
5.1.3.4 检测曲面工件时, 如检测面曲率半径 R≤W2/4时(W 为探头接触面宽度, 环缝检测时为探头宽度, 纵缝
检测时为探头长度) ,应采用与检测面曲率相同的对比试块,反射孔的位置可参照标准试块确定。试 块宽度 b
一般应满足:
b≥2λS/D0⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯( D 0——声源有效直径, MM
5.1.4
3)
式中: b——试块宽度, mm ; λ——超声波波长, mm ; S——声程, mm ; 检测准备
5.1.4.1 检测面
a)检测区的宽度应是焊缝本身,再加上焊缝两侧各相当于母材厚度
30%的一段区域,这个区域最小
为 5mm,最大为 10 mm ,见图 18。
b)探头移动区应清除焊接飞溅、铁屑、油垢及其他杂质。检测表面应平整,便于探头的扫查,其表 面粗糙
度 Ra 应小于等于 6.3μm,一般应进行打磨。 ( 1)采用一次反射法检测时,探头移动区大于或等于
1.25P:
4)
P=2TK ⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯(
或
P=2Ttanβ⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯(
5)
式中:
P ——跨距, mm;
10
T——母材厚度, mm; K ——探头 K 值;
β——探头折射角, (°)。
( 2)采用直射法检测时,探头移动区应大于或等于 0.75P。
c)去除余高的焊缝,应将余高打磨到与邻近母材平齐。保留余高的焊缝,如果焊缝表面有咬边、较 大的隆起和凹陷等也应进行适当的修磨,并作圆滑过渡以免影响检测结果的评定。
5.1.4.2
探头 K 值(角度)
斜探头的 K 值(角度)选取可参照表 18的规定。条件允许时,应尽量采用较大 K 值探头。
表 18 推荐采用的斜探头 K 值
板厚 T, mm 6~ 25 >25 ~ 46 >46~120 >120 ~ 400 K值 3.0~ 2.0( 72°~ 60°) 2.5~ 1.5( 68°~ 56°) 2.0~ 1.0( 60°~ 45°) 2.0~ 1.0( 60°~ 45°)
5.1.4.3 5.1.4.4
检测频率 检测频率一般为 2MHz ~5MHz 。 母材的检测
对于 C 级检测,斜探头扫查声束通过的母材区域,应先用直探头检测,以便检测是否有影响斜探头检 测结
果的分层或其他种类缺陷存在。 该项检测仅作记录, 不属于对母材的验收检测。 母材检测的要点如下:
a) 检测方法:接触式脉冲反射法,采用频率 2MHz ~5MHz 的直探头,晶片直径 10mm~25mm。 b) 检测灵敏度:将无缺陷处第二次底波调节为荧光屏满刻度的 5.1.5 距离- 波幅曲线的绘制 5.1.5.1
100% 。
c) 凡缺陷信号幅度超过荧光屏满刻度 20%的部位,应在工件表面作出标记,并予以记录。
距离- 波幅曲线应按所用探头和仪器在试块上实测的数据绘制而成,该曲线族由评定线、 定量线和判废
线组成。评定线与定量线之间(包括评定线)为 I 区,定量线与判废线之间(包括定量线) 为Ⅱ区,判废线及其以上区域为Ⅲ区,如图 19 所示。如果距离 -波幅曲线绘制在荧光屏上,则在检测范围 内不低于荧光屏满刻度的
20%。 5.1.5.2
距离- 波幅曲线的灵敏度选择
表 19 距离- 波幅曲线的灵敏度
试块型式 板厚, mm 评定线 定量线 判废线 a) 壁厚为 6mm~ 120mm 的焊接接头,其距离 - 波幅曲线灵敏度按表 19 的规定。
6~ 46 CSK- Ⅱ A >46~120 8~15 CSK- Ⅲ A > 15 ~ 46
>46~120 b) 壁厚大于 120mm~400mm 的焊接接头,其距离 - 波幅曲线灵敏度按表 20的规定。 φ2× 40- 18dB φ2× 40- 14dB φ1×6- 12dB φ 1× 6-9dB φ1×6-6dB φ2× 40- 12dB φ2×40- 8dB φ1×6-6dB φ1×6-3dB φ1×6 φ2× 40- 4dB φ2× 40+2dB φ1 × 6+2dB φ1× 6+5dB φ× 6+10dB 表 20 距离 - 波幅曲线的灵敏度
试块型式 CSK- Ⅳ A 板厚, mm >120~400 评定线 定量线 判废线 φd- 16dB 6dB 。 φ d- 10dB φd 注: d 为横孔直径,见表 17。 c) 检测横向缺陷时,应将各线灵敏度均提高 d) 检测面曲率半径 R≤ W2/4 时,距离 - 波幅曲线的绘制应在与检测面曲率相同的对比试块上进行。 e) 工件的表面耦合损失和材质衰减应与试块相同,否则应按附录
F(规范性附录)的规定进行传输
损失补偿。在一跨距声程内最大传输损失差小于或等于
2dB 时可不进行补偿。
f) 扫查灵敏度不低于最大声程处的评定线灵敏度。
11
5.1.6 检测方法 5.1.6.1
平板对接焊接接头的超声检测
20。探头前
a)为检测纵向缺陷,斜探头应垂直于焊缝中心线放置在检测面上,作锯齿型扫查,见图 15°的左右转动。不同检测等级对纵向缺陷的检测要求见 b)不同检测等级对横向缺陷的检测要求见 5.1.2 。
c)对电渣焊焊接接头还应增加与焊缝中心线成 45°的斜向扫查。
5.1.2。
后移动的范围应保证扫查到全部焊接接头截面,在保持探头垂直焊缝作前后移动的同时,还应作 10°~
d)为观察缺陷动态波形和区分缺陷信号或伪缺陷信号,确定缺陷的位置、方向和形状,可采用前后、 左
右、转角、环绕等四种探头基本扫查方式,见图
5.1.6.2
21。
曲面工件(直径小于或等于 500mm )对接焊接接头的超声检测
a) 检测面为曲面时,可尽量按平板对接焊接接头的检测方法进行检测。对于受几何形状,无法 检测
的部位应予以记录。
b) 纵缝检测时,对比试块的曲率半径与检测面曲率半径之差应小于 10%。
( 1)根据工件的曲率和材料厚度选择探头 K 值,并考虑几何临界角的,确保声束能扫查到整个焊
接接头。
( 2)探头接触面修磨后,应注意探头入射点和 K 值的变化,并用曲率试块作实际测定。
( 3)应注意荧光屏指示的缺陷深度或水平距离与缺陷实际的径向埋藏深度或水平距离弧长的差异,必 要时
应进行修正。
c) 环缝检测时,对比试块的曲率半径应为检测面曲率半径的 0.9 倍~ 1.5 倍。
5.1.6.3
管座角焊缝的检测
a) 一般原则。 在选择检测面和探头时应考虑到各种类型缺陷的可能性,并使声束尽可能垂直于该焊接接
头结构中的 主要缺陷。
b ) 检测方式。 根据结构形式,管座角焊缝的检测有如下五种检测方式,可选择其中一种或几种方式组合
实施检测。 检测方式的选择应由合同双方商定,并应考虑主要检测对象和几何条件的。
1)在接管内壁采用直探头检测,见图 22 位置 1。 2)在容器内壁采用直探头检测,见图
23 位置 1。在容器内壁采用斜探头检测,见图 22位置 4。
3)在接管外壁采用斜探头检测,见图 23 位置 2。
4)在接管内壁采用斜探头检测,见图 22 位置 3 和图 23 位置 3。 5)在容器外壁采用斜探头检测,见图 22 位置 2。 c) 管座角焊缝以直探头检测为主,探头频率、尺寸应按
4.2.2 的规定执行,管座角焊缝和 T 型焊接
接头超声检测时, 管座角焊缝斜探头的距离 -波幅曲线灵敏度按表 19的规定, 直探头的距离 -波幅 曲线灵敏度按表 21 的规定。距离 - 波幅曲线的制作可在 CSⅡ试块上进行,详见 5.1.5.1。必要时 应增加斜探头检测的内容。
5.1.6.4
T 型焊接接头的超声检测
a) 适用范围。
本条适用于厚度为 6mm~50mm 的承压设备全焊透 T 型焊接接头的超声检测。其他用途的全焊透 T 型 焊接接头的超声检测也可参照本条的规定进行。
b) 基本原则。
在选择检测面和探头时应考虑到检测各类缺陷的可能性,并使声束尽可能垂直于该焊接接头结构中的 主要缺陷。
c) 检测方式。
根据焊接接头结构形式, T 型焊接接头的检测有如下三种检测方式。可选择其中一种或几种方式组合 实施检测,检测方式选择应由合同双方商定,并应考虑主要检测对象和几何条件的。
1) 用斜探头从翼板外侧用直射法进行探测,见图 24 位置 1、图 25 位置 1 和图 26位置 1。
2) 用斜探头在腹板一侧用直射法或一次反射法进行探测,见图 24 位置 2、位置 4,图 25 位置 2、位
12 置 4 和图 26 位置 2 、位置 4。
3) 用直探头或双晶直探头在翼板外侧沿焊接接头探测,或者用斜探头(推荐使用 K1 探头)在翼板 外侧沿焊
接接头探测,见图 24 位置 3、图 25位置 3和图 26位置 3。位置 3 包括直探头和斜探头 两种扫查。
d)
斜探头 K 值的确定。
用斜探头在翼板外侧进行探测时, 推荐使用 K1 探头; 用斜探头在腹板一侧进行探测时, 探头 K 值根 据腹板厚度按表 18 进行选择。
e) 距离 -波幅曲线灵敏度的确定。
用斜探头探测时,距离 -波幅曲线灵敏度应以腹板厚度按表 19 确定;用直探头探测时,距离 -波幅曲线 灵敏度应以翼板厚度按表 22 确定。
f) g)
扫查方式 直探头和斜探头的扫查按 5.1.6 的有关规定进行。 对缺陷进行等级评定时,均以腹板厚度为准。 灵敏度应调到定量线灵敏度。
对所有反射波幅达到或超过定量线的缺陷,均应确定其位置、最大反射波幅和缺陷当量。 缺陷位置测定 缺陷位置测定应以获得缺陷最大反射波的位置为准。
5.1.7 缺陷定量检测 5.1.7.1 5.1.7.2 5.1.7.3 5.1.7.4 5.1.7.5
缺陷最大反射波幅的测定 将探头移至缺陷出现最大反射波信号的位置,测定波幅大小,并确定它在距离 -波幅曲线图中区域。
缺陷定量 应根据缺陷最大反射波幅确定缺陷当量直径 φ或缺陷指示长度Δ L 。
- 波幅曲
a) 缺陷当量直径 φ ,用当量平底孔直径表示,主要用于直探头检测,可采用公式计算,距离
线和试块对比来确定缺陷当量尺寸。
b)
缺陷指示长度Δ L 的检测采用以下方法:
80%后,用
6dB 法测其指示长度;
1) 当缺陷反射波只有一个高点,且位于Ⅱ区或Ⅱ区以上时,使波幅降到荧光屏满刻度的
2) 当缺陷反射波峰值起伏变化,有多个高点,且位于Ⅱ区或Ⅱ区以上时,使波幅降到荧光屏满刻度 的 80% 后,应以端点 6dB 法测其指示长度;
3) 当缺陷反射波峰位于Ⅰ区,如认为有必要记录时,将探头左右移动,使波幅降到评定线,以此测 定缺
陷指示长度。
5.1.8 缺陷评定 5.1.8.1 5.1.8.2 5.1.8.3
超过评定线的信号应注意其是否具有裂纹等危害性缺陷特征, 如有怀疑时, 应采取改变探头 K 值、 增缺陷指示长度小于 10mm 时,按 5mm 计。
加检测面、观察动态波型并结合结构工艺特征作判定,如对波型不能判断时,应辅以其他检测方法作综 合判定。
相邻两缺陷在一直线上,其间距小于其中较小的缺陷长度时,应作为一条缺陷处理,以两缺陷长 度之
和作为其指示长度(间距不计入缺陷长度) 。
5.1.9 质量等级评定
焊缝质量等级评定按表 23 的规定进行。
表 23 焊缝质量等级评定 mm
等级 板厚 T 6~400 反射波幅 (所在区域 ) Ⅰ Ⅱ 单个缺陷指示长度 L 非裂纹类缺陷 L=T /3,最小为 10,最大不超过 30 L=T /3,最大不超过 50 13 多个缺陷累计长度 L′ Ⅰ 6~120 在任意 9T 焊缝长度范围内 L′不超过 T > 120~ 400
6~120 Ⅱ > 120~ 400 Ⅱ Ⅱ L=2 T/3,最小为 12,最大不超过 40 在任意 4.5T 焊缝长度范围内 最大不超过 75 超过Ⅱ级者 所有缺陷 裂纹等危害性缺陷 L ′不超过 T 超过Ⅱ级者 Ⅲ 6~ 400 Ⅲ Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ 注: 1 母材板厚不同时,取薄板侧厚度值。 2 当焊缝长度不足 9T(Ⅰ级)或 4.5T (Ⅱ级)时,可按比例折算。当折算后的缺陷累计长度小于 单个缺
陷指示长度时,以单个缺陷指示长度为准。 6 承压设备管子、压力管道环向对接焊接接头超声检测和质量分级 6.1 6.1.1
钢制承压设备管子和压力管道环向对接焊接接头超声检测和质量分级 范围
本条规定了钢制承压设备管子和压力管道环向对接焊接接头超声检测方法和质量分级。 本条适用于壁厚大
于或等于 4mm,外径为 32mm~ 159mm或壁厚为 4mm~ 6mm,外径大于或等于 159mm 的成压设备管子和压力管道环向对接焊接接头的超声检测。
本条不适用于铸钢、奥氏体不锈钢承压设备管子和压力管道环向对接焊接接头的超声检测。
6.1.2 6.1.2.1 6.1.2.2
试块
试块的制作应符合 3.5 的规定。
试块的曲率应与被测管径相同或相近, 其曲率半径之差不应大于被检管径的 10 %。采用的试块 型号为 GS-1、GS-2、GS-3、GS-4,其形状和尺寸应分别适合 GB/T4730.3-2005 图 32 和表 28 的 规定。GS-1 试块适用于曲率半径大于 16mm至 24mm的承压设备管子和压力管道环向对接焊接接 头检测;GS-2 试块适用于曲率半径大于 24mm至 35mm的承压设备管子和压力管道环向对接焊接 接头检测。GS-3 试块适用于曲率半径大于 35mm至 54mm的承压设备管子和压力管道环向对接焊 接接头检测; GS-4 试块适用于曲率半径大于 54mm至 80mm的承压设备管子和压力管道环向对接 焊接接头检测
6.1.3 探头
6.1.3.1 推荐采用线聚焦斜探头,其性能应能满足检测要求。
6.1.3.2 探头频率一板采用 5MHz ,当管壁厚度大于 15mm 时,采用 2.5MHz 的探头。探头主声束轴线水 平偏离
角度不应大于 2° .
6.1.3.3 斜探头 K 值的选取可参照表 JB/T4730.3-2005 的规定。如有必要也可采用其他 K 值的探头。
6.1.3.4 探头楔块的曲率应加工成与管子外径相吻合的形状。加工好曲率的探头应对其 K 值和前沿值进行 测定,
要求一次波至少扫查到焊接接头根部。
6.1.4
检测位置及探头移动区
6.1.4.1 一般要求从对接焊接接头两侧进行检测,确因条件只能从焊接接头一侧检测时,应采用两种 或两种
以上的不同 K 值探头进行检测,并在报告中加以说明。
6.1.4.2 探头移动区应清除焊接飞溅物、铁屑、油垢及其他杂质,其表面粗糙度
Ra≤6.3um,探头移动区
应大于 1.5P, P的计算按 5.1.4 的规定。
6.1.5 距离一波幅曲线的绘制
6.1.5.1 一般按水平 1:1 调节扫描时基线。 6.1.5.3 选择与实际工件曲率相对应的对比试块。
14
6.1.5.3 距离一波幅曲线按所用探头和仪器在所选择的试块上实测的数据绘制而成, 该曲线族图由评定线、 定
量线和判定线组成。评定线与定量线之间(包括评定线)为 I 区,定量线与判废线之间(包括定量线) 为 II 区,
判废线及其以上区域为 III 区,见 JB/4730.3-2005 图 33 所示。
7、在用承压设备超声检测 7.1 范围
适用于在用承压设备超声检测
7.2在用承压设备用原材料,零部件的超声检测时,其主要内容应符合第
4 章的有关规定。
对于在用螺栓和螺柱的超声波检测,除应符合 4.6 的有关规定外,还应对螺纹根部是否有裂纹进行检测, 其主要检测内容如下:
a) 在螺栓或螺柱端部采用纵波小 K 值斜探头进行纵波斜射检测。
b) 在螺栓或螺柱无螺纹部分采用 K1.5—K2.5,频率为 2.5MHz 的横波斜探头进行轴向检测。
c) 纵波斜射检测和横波轴向检测的对比式样应采用与被检工件材料,形式和规格相同或近似的螺栓或螺 距制
作。人工缺陷反射体(切槽)位于最大探测声程处并应垂直与螺栓或螺距的轴线。人工缺陷反射 的形状和尺寸按 JB/T4730.3—2005 规定。材料特性热处理状态来判定缺陷类型和性质。通常应确定点 状缺陷、现状缺陷(条状夹渣、未焊透、未熔合等) 、面状缺陷(裂纹、面状未焊透、面状未熔合等)
7.3.1.5.2 对采用超声检测确定缺陷尺寸和类型比较困难或分布比较密集的缺陷应增加 X 射线检测或其他 检测以便
进一步综合判断。
7.3.1.5.3 对在用承压设备超声检测发现的缺陷应与制造和安装的原始资料或上一检测周期的检测报告核 对以进
一步判定本次发现的缺陷是否是新产生的以及是否有扩展。
7.3.1.6 缺陷记录
7.3.1.6.1 应根据在用压力容器定期检测规则的技术规程的要求对缺陷的超声检测结果进行记录。
7.3.1.6.2 根据需要也可有安全评定人员根据设计制造使用和检测记录提供允许缺陷的临界尺寸(缺陷位 置、长
度和自身高度) ,检测时只记录大于该界限尺寸的缺陷,交由评定人员评定处理。
7.3.1.6.3 记录内容应包括缺陷位置、类型、取向、波幅、指示长度和自身高度以及缺陷分布图。记录应由 操作
人员和责任人员签字。
7.4 在用承压设备管子和压力管道环向对接焊接接头超声检测 7.4.1 在用钢制承压设备管子和压力管道环向对接焊接接头超声检测
7.4.1.1 在用钢制承压设备管子和压力管道环向对接焊接接头超声检测时, 其检测方法和检测技术要求应符
合 6.1 的有关规定。当检测时如发现反复反辐射波幅位于Ⅲ区的缺陷、按 6.1 的有关规定评定为不合格的 缺陷以及检测人员判定为危害性的缺陷,应按 7.3.1 的有关规定进行处理。
7.4.1.2 应根据在用工业管道定期检验规程等技术规程的要求对缺陷的超声波检测结果进行记录。 8 超声波报告:
超声波报告至少应包括以下内容: a) 委托单位
b) 被检工件:名称、编号、规格、材质、坡口形式、焊接方法和热处理情况; c) 检测设备:探伤仪、探头、试块;
d) 检测规范:技术等级、探头 K 值、探头频率、检测面和检测灵敏度;
e) 检测部位及缺陷的类型、尺寸、位置和分布应在草图上予以表明,如有因几何形状而检测不到位 的部位
也应加以说明;
f) 检测结果及质量分级、检测标准名称和验收等级;
15
g) 检测人员和责任人员签字及技术资格;
h) 检测日期
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