自动化芯片测试系统

（12）发明专利申请

（21）申请号 CN201810262985.3 （22）申请日 2018.03.28

（71）申请人 北京君正集成电路股份有限公司

地址 100094 北京市海淀区西北旺东路10号院东区14号楼A座一至三层

（10）申请公布号 CN110320458A

（43）申请公布日 2019.10.11

（72）发明人 洪涛

（74）专利代理机构 北京智为时代知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人 王加岭

（51）Int.CI

权利要求说明书 说明书 幅图

（54）发明名称

自动化芯片测试系统

（57）摘要

本发明提供了一种自动化芯片测试系统，

包括：抓取装置、测试装置、控制器，其中，所述测试装置上放置有被测芯片，用于对被测芯片进行测试；所述抓取装置，用于在所述被测芯片测试完成后，按照测试结果信息放至目标位置；所述控制器，与所述抓取装置和所述测试装置相连，用于对所述抓取装置和所述测试装置进行控制。通过上述方案解决了现有的芯片测试方式中所存在的测试效率低、测试结果准确度低的技术

问题，达到了有效提高测试效率和测试准确度的技术效果。

法律状态

法律状态公告日

2019-10-11 2019-10-11 2019-11-05

法律状态信息

公开 公开

实质审查的生效

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公开 公开

实质审查的生效

权利要求说明书

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说明书

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